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韩国已开发高速纳米薄膜测量设备

2024-02-06    

中国照明网报道

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导语: 韩国檀国大学(Dankook University)近日宣布,开发出全球第一台设备,可快速测量手机等各种显示器表面的纳米薄膜表面缺陷。

  韩国檀国大学(Dankook University)近日宣布,开发出全球第一台设备,可快速测量手机等各种显示器表面的纳米薄膜表面缺陷。

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  显示器通常会经过一道工序,即在表面贴上一层20-40纳米厚的纳米薄膜,使其变得光滑。过去要辨识纳米薄膜必须使用透社电子显微镜、原子力显微镜和扫描电子显微镜等耗时方法,因此难以定量测量,且常常导致次级品出厂。尤其是可摺叠和柔性显示器,是使用光学透明黏合剂来黏合每一层,因此常在摺叠点出现分层,导致整个产品报废。

  在韩国公司Powel支持下,Han Kwan-Young带领的研究团队开发出一种设备,利用高分辨率相机拍摄显示器基板纳米薄膜表面,测量每个表面的能量(energy),以确定缺陷。这款设备可在40秒内测量8吋显示屏的整个区域,进而快速确定缺陷。据报导,利用该设备可预先筛查每个纳米薄膜中的缺陷,确保只使用无缺陷材料,进而大大降低产业成本,提高生产率。

  Han Kwan-young教授指出,显示器快速发展和产品逐步复杂,使得公司在开发和大规模生产材料的损失增加,因此开发这个设备。团队未来也会研究有关AR和VR光学系统,以及Micro LED转移和再生的检测技术和应用技术。

编辑:严志祥

来源:科技新报

标签:韩国  高速纳米薄膜  测量设备  

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